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OM820光学原位实时膜厚控制仪

In-Situ Spectroscopic Optical Monitor

在蒸镀其间对反射或透射进行全光谱,实时分析和控制

特性

  • 全光谱终点分析

  • 多终点技术

  • 真空室特征真时监控

  • 光学常数(N和K值)



全光谱分析:该光控制器可在200-900NM的波长范围内完成对监控比较片反射率和透射率的分析。

多终点技术:820型光控器通过使用前石英波和后石英波或范本比较来设置每一膜层的蒸镀结束点,先进的麦克劳得薄膜设计与应用软件与820晶控器所用软件相结合来完成模板比较。

蒸镀室真实特征监控:由于820光控器能够监测蒸镀工艺期间的全光谱,所以该系统就能够区分在各种膜料组成变化和真空室参数变化而产生的光谱偏移,光谱数据可用来计算蒸镀膜层的N&K值。

820型光控器也能够记录下与工艺工步有关的膜系光学常数的特征,如因温度/气体流量变化引起的光谱偏移。

脱机监测(选用):监测控制滤波片,棱镜和光束分光镜质量用的反射率,投射率和颜色。

离子诊断/结束点:该820型光控器也具有控制分析离子过程的能力。
 


 

功能说明
820型控器是一个多波长光谱仪,其由一个低压卤素光源,硅光电二极管陈列监测器,计算机和可进行复杂几何运算的软件构成。选进的光纤组件可提供较高的信/躁比并保持长期的稳定性,该光电二极管陈列可使整个范围的光谱波长被同时监测,当在玻璃基板上蒸镀像二氧化硅这样的膜料时,其采用的到结束都与曲线相吻合的方法更有助于对工艺环境中较小信号的监测与控制。

透射方式:
光通过光源传感器从真空室底部(顶部)照明,并通过比较片透射到真空室顶部(底部)的透射传感器内,收集在传感器上的光被聚焦到光纤上,并通过光纤被传递到光谱仪上来进行分析,请参见图1

反射方式
光通过光源传感器从底部(顶部)照明,并从比较片上反射到真空室顶部(底部),收集在传感器上的光被聚焦到光纤上,并通过光纤被传递到光谱仪上来进行分析,请参见图1

结束点技术:
该光控器采用了几种技术来控制每层膜厚,这些技术如下所述:

1/4波
1/4波技术是蒸镀工业领域最常用的技术,其可用监测蒸镀期间一个单波长与时间的关系,在该时间内,单波长亮度信号将会因建立或破坏的波长干涉性(基于蒸镀膜层的反射指数)而改变,根据该波长和膜料的反射指数,就可以计算膜厚。

波长/反射指数
多1/4波反射说明如图3所示。

范本比较
该技术是把采集到的光谱与设定的模拟光谱(通过麦克劳德模拟软件来完成)相比较,通过使用一种运算函数来区公该比较结果,可使用一个模板文件来控制所有的膜层,详细说明请参见图4
 

图2所示的是二氧化钛的5个1/4波全光谱,该光谱可用来重新计算蒸镀膜料的N&K值(反射指数)或实际膜厚。

图3所示的是在二氧化钛蒸镀期间的多1/4波,可使用前1/4波或后1/4波来终止膜层

图4所示的是范本比较技术。左边屏显显示的是采集到光谱值(黑线)和用于进行比较的模板(蓝线),右侧屏显显示的是资料与时间相对应的“均方根”运算,当这两个光谱显示(右侧)相匹配时,系统就要终止膜层的蒸镀,必须要使用一个模拟软件包(如基本的麦克劳德软件)来建立该模板才能进行比较
 

Multi-Layer User Interface

Layer

Material

Mode

Wavelength

Status

Chip 1

Glass

Reflection

 

 

1

LAZ HFO2

QW:*VA*

650

Ready

2

SIO2

QW:*VA*

650

Ready

Chip 2

Glass

Renection

 

 

3

LAZ HFO2

QW:*VA

650

Ready

4

SIO2

QW:V

650

Ready

Chip 3

Glass

Reflection

 

 

5

LAZ HFO2

TM:RMS

450-850

Ready

6

Sio2

TM:RMS

450-850

Ready

Chip4

Glass

Reflection

 

 

7

LAZ HFO2

TM:CORR

450-850

Ready

8

Sio2

TM:CORR

450-850

Ready

9

LAZ HFO2

TM:CORR

450-850

Ready

SPECIFICATIONS

  • Spectrometer Type:               Ebert

  • Detector:                               512element Silicon Photodiode array

  • Photosensitive area:               50 micron pixel pitchX2.5mm pixel height

  • Quantum efficiency--------------------- 75%@600nm

  • Sensitivity:                     2200 photons @ 600nm

  • Response:                      4.5X10-4 coulombs/joule/cm2

  • Dark Current:                   2 pico-amps

  • Saturation Charge                22 pico-coulombs

  • Precision/Stability------------------------Less then or equal to 0.2% of full scale/hour

  • Color Calculations:               CLE*a*b,CLE I *u*v, XYZ

  • Minimum Signal Acquisition time:  50 msec

  •  

  • Fiber Optics

  • Light source viewport-------------------2.75”CFF is standard specials available on request

  • Light source and detector cables:   Fused silica with SMA (1/4-36)connectors and 3mm ferule

  • Maximum Cable Temperature:     108 Deg C

  • Maximum working Distance:      6meters

  •  

  • Chassis physical data

  • Size(Width X Height Xdepth)---------19”X8.75”X10”(483mmX223mmX254

  • Weight:                        40 pounds(18.25kg)

  •  

  • Computer Specification

  • Processor----------------------------------pentium ll 266MHz

  • Memory:                       128RAM

  • Hard Drive:                     20 GB IDE

  • Operating System:               Window 98, Windows 2000

  • Communications Ports            2 Serial Ports,1 parallel port, 2 TTL inputs, 2 TTL outputs

  • Display:                        15” Flat Panel , active-matrix LCD
 
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